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涂鍍層測量儀MMS PC2，搭載 Windows™ CE 操作系統(tǒng)，是適用于高精度涂鍍層厚度測量與材料測試的理想解決方案。設備通過插卡實現(xiàn)模塊化設計，能實現(xiàn)與同名手持式儀器相同的功能。為較大程度地提高適用性，可從豐富的探頭種類中選擇相應的探頭，以定量測量樣品的各種屬性和規(guī)格，如涂鍍層厚度、導電性以及鐵素體含量等。

XAN涂鍍層測厚儀特別適合測量和分析超薄鍍層，即使鍍層成分復雜或含量微小也都能準確測量。該系列產(chǎn)品簡單易用且性價比高，因此在同類產(chǎn)品中脫穎而出。

XDV-µ涂鍍層厚度測量儀是專為在極微小結(jié)構(gòu)上進行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設計的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達10至60µm。短時間內(nèi)就可形成高強度聚焦射線。除了通用型XDV-µ型儀器，還有專門為電子和半導體行業(yè)而設計的儀器。如XDV-µ LD是專為測量線路板而優(yōu)化的，而XDV-µ

FISCHER通過GOLDSCOPE涂鍍層厚度測量儀系列儀器，為無損的黃金和貴金屬測試提供定制化解決方案。這些耐用的X射線熒光儀器，其軟硬件均為珠寶黃金行業(yè)而設計。專注于重要的功能，在控制成本的同時仍只采用廣受認可、高質(zhì)量的組件。

TIME2501覆層測厚儀是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行磁性金屬基體上的非磁性（鋅鋁鉻銅橡膠油漆等）覆蓋層厚度的測量。本儀器符合下列有關標準：GB/T4956-2003磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測量磁性法 可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場測量。

TIME®2113超聲波測厚儀測量厚度的原理與光波測量原理相似。探頭發(fā)射的超聲波脈沖到達被測物體并在物體中傳播，到達材料分界面時被反射回探頭，通過精*測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。該機可實現(xiàn)0.01mm的高分辨力。 測厚儀采用超聲波測量原理，適用于能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播,并能從其背面得到反射的各種材料厚度的測量。此儀器可對各種板材和各種加工零。